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表面轮廓仪

Alpha-step D-100

Alpha-Step D-100是一种先进的探针接触式表面轮廓仪,集高测量精度、多功能性和经济性于一体,是试行生产线及材料分析的理想选择。

1.台阶高度:10nm~400um

2.测量长度:小于3cm 

Alpha-step D-100提供了一整套完备的二维表面形貌分析方法,适用于各种表面,包括:半导体硅片、MEMS、微电子陶瓷、SIMS、光学表面和平面显示。

整个过程前后都不要碰到探针。

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